Výsledky hledání pro výraz: 9027 90 00

9027500000 80-Ostatní přístroje a zařízení využívající optické záření (ultrafialové, viditelné, infračervené)

9027 50 00-Ostatní přístroje a zařízeni využívající optické záření (ultrafialové, viditelné, infračervené)

Do této podpoložky patří elektronická zařízení používaná v chemických laboratořích nemocnic pro plně automatické rozbory krevního séra. V podstatě se skládají z vlastního analyzátoru (se zařízením pro přípravu vzorku, s dávkovacím ústrojím činidel a fotometrickým měřícím systémem, který používá halogenovou lampu jako světelný zdroj a fotodiody jako detektory), kontrolního a vyhodnocovacího zařízení (s mikroprocesory a obrazovkou pro zobrazování výsledků měření) a tiskárny pro záznam výsledků. Všechna tato tři zařízení jsou propojena elektrickými kabely.

–

9027 50

9031803490 80-Ostatní

9031 80 32 a 9031 80 34-Na měření nebo kontrolu geometrických veličin

Příklady geometrických veličin jsou: délka, vzdálenost, průměr, poloměr, zakřivení, úhel, sklon, obsah a nerovnost povrchu.
Do těchto podpoložek nepatří interferometry pro kontrolu rovnosti povrchu, používané v laboratořích (podpo- ložka 9027 50 00).

–

9031 80 34 90

9031803200 10-Elektronické

9031 80 32 a 9031 80 34-Na měření nebo kontrolu geometrických veličin

Příklady geometrických veličin jsou: délka, vzdálenost, průměr, poloměr, zakřivení, úhel, sklon, obsah a nerovnost povrchu.
Do těchto podpoložek nepatří interferometry pro kontrolu rovnosti povrchu, používané v laboratořích (podpo- ložka 9027 50 00).

–

9031 80 32

9031803200 20-Na měření nebo kontrolu geometrických veličin

9031 80 32 a 9031 80 34-Na měření nebo kontrolu geometrických veličin

Příklady geometrických veličin jsou: délka, vzdálenost, průměr, poloměr, zakřivení, úhel, sklon, obsah a nerovnost povrchu.
Do těchto podpoložek nepatří interferometry pro kontrolu rovnosti povrchu, používané v laboratořích (podpo- ložka 9027 50 00).

–

9031 80 32

9031803200 80-Na kontrolu polovodičových destiček nebo polovodičových zařízení nebo na kontrolu masek nebo ohniskových destiček používaných k výrobě polovodičových zařízení

9031 80 32 a 9031 80 34-Na měření nebo kontrolu geometrických veličin

Příklady geometrických veličin jsou: délka, vzdálenost, průměr, poloměr, zakřivení, úhel, sklon, obsah a nerovnost povrchu.
Do těchto podpoložek nepatří interferometry pro kontrolu rovnosti povrchu, používané v laboratořích (podpo- ložka 9027 50 00).

–

9031 80 32